摘要
为解决传统钼原矿多元素分析方法流程繁琐、耗时较长、效率低下
的问题，建立粉末压片制样-波长色散 X 射线荧光光谱快速分析技术，实现钼原
矿中钼、钨、铜、铅、锌、砷、硫、铋、氟等多元素的同时测定。优化样品制
备条件与仪器工作参数，采用经验系数法校正基体效应与谱线重叠干扰，选用
钼矿石国家标准物质及自制梯度含量钼矿石样品建立校准曲线。实验结果表
明，该方法相对标准偏差小于 2.1%，各元素检出限优于传统分析方法，其中钼
检出限低至 3.67μg/g，分析结果与电感耦合等离子发射光谱法测定值高度吻
合。该技术样品预处理简单、分析速度快、精密度高、准确性好，可满足钼原
矿勘探、生产检测及质量控制中的快速分析需求，为钼原矿多元素高效检测提
供技术支撑。
发表时间
2026年08月05日（期刊网平台发表日期，不代表实际的发表时间）
