荧光分析法在钼精矿、钨精矿主次元素检测中的应用优化
摘要
摘要
钼精矿、钨精矿作为非煤矿山重要战略矿产原料，其主次元素含量直接决定矿产品质、交易
定价与选矿工艺调控，快速、精准的检测技术是非煤矿山生产管控的关键。荧光分析法具有
检测速度快、样品前处理简单、可多元素同时测定、适合批量检测等优势，广泛应用于矿山
选矿、矿产品质检等环节。但在实际检测中，受基体效应、粒度效应、谱线干扰、仪器参数
设置、样品制备方式等因素影响，钼、钨主元素及伴生杂质次元素检测精度易出现偏差。本
文基于非煤矿山钼、钨矿检测实际工况，阐述 X 射线荧光分析法基本原理，分析当前钼精矿、
钨精矿检测存在的主要问题，从样品制备、基体校正、仪器条件优化、干扰消除、方法标准
化等方面提出优化策略，为非煤矿山钼钨矿产品快速精准检测、选矿过程质量控制提供技术
支撑。
关键词
无
发表时间
2026年07月01日（期刊网平台发表日期，不代表实际的发表时间）
